松下123dB同步拍摄宽动态范围技术

　　松下公司今日宣布已研发出一项全新的宽动态范围[1]技术，该技术利用具备有机光敏薄膜(OPF) *2的CMOS图像传感器可以将同步拍摄宽动态范围[2]的宽度提高100倍。

　　凭借有机光敏薄膜CMOS图像传感器，可独立设置电荷存储功能和光电转换功能。通过利用有机光敏薄膜CMOS图像传感器的这一独特功能，可以避免强光条件下的曝光过度，而且运动物体拍摄不存在时间失真。此外，即使在弱光条件下，依然可以再现清晰、纹理丰富的图像。这些技术支持高速、高精度成像，在高对比度场景中不存在时间失真。

　　这一新开发的宽动态范围技术支持在高对比度情况下(背光场景或摄影棚照明条件下)精确成像和再现更丰富的色调。此外，无需合成在不同时刻拍摄的多重曝光数据，因此，支持对高速运动物体进行精确成像。因此，这项技术支持高速、高精度和宽动态范围成像和感测。

　　这项新技术提供下列优点。

　　宽入射角度(60度)、高灵敏度、高饱和度和功能强大的电路，其得益于有机光敏薄膜的独特功能，允许用于光电转换和读出电路的有机光敏薄膜彼此独立。

　　123dB同步拍摄宽动态范围(宽度是普通硅图像传感器*3的100倍)，同时维持传统的芯片尺寸，这得益于我们原创的“同步拍摄结构”。

　　这一宽动态范围技术包括下列技术：

　　有机光敏薄膜CMOS图像传感器设计技术，其中，光电转换部分和电路部分可独立设计。

　　双敏像素技术(Dual-Sensitivity Pixel Technology)，其在单个像素内具有两个灵敏度感测单元(一个用于高光，一个用于暗光)，利用其高饱和度性能和有机光敏薄膜CMOS图像传感器灵敏度设置的灵活性，以便实现同步拍摄宽动态范围。

　　电容耦合噪声消除器技术，可消除像素复位噪声，以提高黑暗物体成像时的 S/N[3]特性。

　　松下拥有58项有关该技术的日本专利和44项国外专利(包括申请中的专利)。

　　在2016年1月31日至2月4日于美国旧金山举行的国际学术会议：2016年国际固态电子电路会议(ISSCC)上，松下展示了这些技术中的部分技术。

　　注：

　　*1:截至2016年2月2日，根据松下的现有数据。

　　*2:我们采用由富士胶片公司(Fujifilm Corporation)开发的有机光敏薄膜(OPF)。

　　*3:与松下硅CMOS图像传感器相比。